Affinement des pics de diffraction par méthode Rietveld
| dc.contributor.author | BOUGHRARA Abir | |
| dc.contributor.author | BENOUDIA Mohamed Cherif (Encadrant) | |
| dc.date.accessioned | 2024-05-21T10:31:19Z | |
| dc.date.available | 2024-05-21T10:31:19Z | |
| dc.date.issued | 2023 | |
| dc.description.abstract | La caractérisation d'une soudure en Ti-6Al-4V a impliqué la réalisation d'essais de diffraction des rayons X sur des échantillons prélevés dans différentes zones du joint soudé, notamment le métal de base, la zone affectée thermiquement et la zone fondue. Pour affiner et indexer les pics des diffractogrammes, la méthode d’affinement Rietveld a été utilisée. L'objectif de cette étude est de présenter le principe de l'affinement par la méthode Rietveld et de décrire les différentes étapes en utilisant le logiciel MAUD (Materials Analysis Using Diffraction). Par la suite, une évaluation de la qualité de l'affinement a été réalisée grâce aux paramètres d’affinement, ainsi que la détermination de la taille des cristallites et de la microdéformation. | |
| dc.identifier.uri | http://172.16.16.5:4000/handle/123456789/115 | |
| dc.language.iso | fr | |
| dc.publisher | Ecole Nationale Superieure de Technologie et d Ingénierie. Annaba (Ex ENSMM) | |
| dc.title | Affinement des pics de diffraction par méthode Rietveld | |
| dc.type | Thesis |